IT6400用于Micro LED集成測試

IT6400用于 Micro LED 集成測試越來越多的手機、電視廠商將目光投向Micro LED 技術。 Micro LED 即LED 微縮技術，是指將傳統(tǒng) LED 數(shù)組化、微縮化后尋址巨量轉移到電路基板上，形成超小間距 LED ，將毫米級別的 LED 長度進一步微縮到微米級，以達到超高像素、超高解析率，理論上能夠適應各種尺寸屏幕的技術。

Micro LED具備無需背光源、能夠自發(fā)光的特性，與 OLED 相似，但相比OLED Micro LED 色彩更容易準確的調試，有更長的發(fā)光壽命和更高的亮度但功耗比LCD低90%90%，是OLED的一半 ?；蛟S能成為 OLED 之后下一代顯示技術。
顯示器的缺陷檢測是非常重要的一項測試，但目前的檢測測量仍保持在宏觀水平，不能用于精確測量 Micro LED 數(shù)組，而且用于評估 Micro LED 數(shù)組亮度的方法集中在總亮度的測量上，未能快速檢測 Micro LED 數(shù)組中的壞像素。因此尋找一種快速、精確的方法來檢查 Micro LED 的表面亮度是非常有必要的。
Micro LED數(shù)組的亮度測量
ITECH某系統(tǒng)集成商用戶為Micro LED提供缺陷檢測測試系統(tǒng)，工作原理為：
1.使用圖像傳感器將包含著目標物亮度信息的電信號轉換成圖像。利用標準亮度計檢測待測物的亮度，獲得灰度與亮度的關系，便可以通過曝光時間和拍攝到的圖片快速得到待測物的亮度。

2.通過裝置拍攝工作狀態(tài)下Micro LED數(shù)組的圖片，經(jīng)過編寫的軟件便可得到不同芯片的平均亮度。例如8號芯片的亮度僅為相同電壓下其余芯片的三分之一，可確定8號芯片異常。因此，該系統(tǒng)既可以定量檢Micro LED數(shù)組的工作狀態(tài)，也可以用于快速檢測Micro LED數(shù)組的壞點。

3.形成不同電流下單顆Micro LED芯片的亮度偽彩圖和亮度3D分布圖。通過調節(jié)供電電流，如10uA、100uA、1000uA等參數(shù)，可以改變Micro-LED芯片表面亮度的均勻性，形成不同的亮度效果，對產品性能進行研究?？梢钥吹皆?000 uA驅動電流的情況下，更多的點位于平均亮度附近。

ITECH可為Micro LED測試提供高分辨率高精度的供電電源。IT6400系列快動態(tài)響應時間小于20 us，電流顯示解析度可達1nA ，電流紋波小于2uArms， LED測試無過流，標配有LAN/USB/GPIB通信接口，適用于LED行業(yè)測試。

IT-M3200高精度可編程直流電源，60V-600V電壓范圍，100W、200W、360W功率，適用于系統(tǒng)集成批量測試。在? U的Mini體積里兼顧了大功率和低紋波輸出，同時具備動態(tài)負載響應能力，提供多檔位電流量程切換，滿足用戶從安培級別到微安級別電流的多種量測需求，使用起來更加簡易有效。

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